MultiViewシリーズ近接場光学顕微鏡システム
イスラエル国Nanonics社のMultiViewシリ-ズ は、走査型プロ-ブ顕微鏡(SPM)と近接場光学顕微鏡(NSOM/SNOM)を組み合わせたシステムで、高分解能（最小50nm）の光学測定がSPM測定と同時に可能です。他の分析機器への組込みも容易です。
特徴
Nanonics社が特許の所有している厚さ7mmの薄型3Dフラットスキャナ-とカンチレバ-型光ファイバ-プロ-ブにより、以下のAFMと同じフィ-ドバック機構を有するため、NSOMモードとSPMモ-ドが同時に測定可能で、また測定ヘッドの上下方向で光学的にオ-プンな構造になっています。
また従来のSiカンチレバ-と異なりプロ-ブ先端が露出していますので、SPM測定中も顕微鏡観察が可能です。
●市販の光学顕微鏡（正立型、倒立方を問わず）へ容易に組み込むことが可能です。
●サンプルスキャニング方式の400/1000システム、プロ-ブ/サンプルスキャニング方式の2000システムがございます。
●他社製SPMコントロ-ラも使用可能です。
●顕微ラマン装置、SEM、共焦点レ-ザ-顕微鏡等の分析装置と組み合わせることが可能です。
また、高分解能屈折率分布観察、Protein Printing(Chemical Delivery)、ナノエッチング等の各種アプリケーションも多数ご用意しております。
また従来のSiカンチレバ-と異なりプロ-ブ先端が露出していますので、SPM測定中も顕微鏡観察が可能です。
●市販の光学顕微鏡（正立型、倒立方を問わず）へ容易に組み込むことが可能です。
●サンプルスキャニング方式の400/1000システム、プロ-ブ/サンプルスキャニング方式の2000システムがございます。
●他社製SPMコントロ-ラも使用可能です。
●顕微ラマン装置、SEM、共焦点レ-ザ-顕微鏡等の分析装置と組み合わせることが可能です。
また、高分解能屈折率分布観察、Protein Printing(Chemical Delivery)、ナノエッチング等の各種アプリケーションも多数ご用意しております。
関連サイト
Nanonics社:http://www.nanonics.co.il
お問い合わせ
| 機能材料部 | 〒141-0032 東京都品川区大崎一丁目2番2号 アートヴィレッジ大崎セントラルタワー12階 TEL：03-5435-6515 FAX：03-5435-0071 |