Q-Control システム
独国nanoAnalytics社のQ-Controlシステムは、大気中、真空中、溶液中でDynamic/Non Contact mode時のカンチレバーのQ値をコントロールするシステムです。
特徴
●AFMカンチレバーのQ値をコントロール可能な追加モジュールです。
-Q値を上げることによりカンチレバーの接触圧を少なくすることができます。それにより、柔らかいサンプルにおいて分解能が向上します。また、 EFM or MFMの全体的な感度が向上し、SN比も上がります。溶液中測定にも有効です。
-Q値を下げることにより、最大スキャン速度が上がります。
●既存のAFMシステムに取りつけ可能です。
（取付可能なAFMに付きましては、お問い合わせください。）
●対応周波数
Q-ControlⅡ 25kHz～500kHz
Q-ControlⅢ 7kHz～500kHz
-Q値を上げることによりカンチレバーの接触圧を少なくすることができます。それにより、柔らかいサンプルにおいて分解能が向上します。また、 EFM or MFMの全体的な感度が向上し、SN比も上がります。溶液中測定にも有効です。
-Q値を下げることにより、最大スキャン速度が上がります。
●既存のAFMシステムに取りつけ可能です。
（取付可能なAFMに付きましては、お問い合わせください。）
●対応周波数
Q-ControlⅡ 25kHz～500kHz
Q-ControlⅢ 7kHz～500kHz
測定例
MFMによるハードディスク測定
DNA ring structureのトポグラフィ像
関連サイト
nanoAnalytics社: http://www.nanoanalytics.com/
お問い合わせ
| 機能材料部 | 〒141-0032 東京都品川区大崎一丁目2番2号 アートヴィレッジ大崎セントラルタワー12階 TEL：03-5435-6515 FAX：03-5435-0071 |