巴工業株式会社

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Q-Control システム

概要

独国nanoAnalytics社のQ-Controlシステムは、大気中、真空中、溶液中でDynamic/Non Contact mode時のカンチレバーのQ値をコントロールするシステムです。

特徴

・AFMカンチレバーのQ値をコントロール可能な追加モジュールです。
-Q値を上げることによりカンチレバーの接触圧を少なくすることができます。それにより、柔らかいサンプルにおいて分解能が向上します。また、 EFM or MFMの全体的な感度が向上し、SN比も上がります。溶液中測定にも有効です。
-Q値を下げることにより、最大スキャン速度が上がります。

・既存のAFMシステムに取りつけ可能です。
(取付可能なAFMに付きましては、お問い合わせください。)

・対応周波数
Q-ControlⅡ 25kHz~500kHz
Q-ControlⅢ 7kHz~500kHz
 

測定例


MFMによるハードディスク測定



DNA ring structureのトポグラフィ像
 

 

関連サイト

nanoAnalytics社: http://www.nanoanalytics.com/

お問い合わせ

機能材料部
〒141-0001
東京都品川区北品川五丁目5番15号
大崎ブライトコア19階
TEL:03-3442-5142 FAX:03-3442-5175

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